XJTAG邊界掃描測試系統
XTAG 邊界掃描工具,用于電子電路的快速調試、測試和編程。
什么是 JTAG,我如何使用它?
JTAG 不僅僅是調試和編程
您可能熟悉 JTAG,因為您使用過帶有 JTAG 接口的工具。處理器經常使用 JTAG 來提供對其調試/仿真功能的訪問,所有 FPGA 和 CPLD 都使用 JTAG 來提供對其編程功能的訪問。
JTAG 不僅僅是一種處理器調試/仿真技術。
JTAG 不僅僅是一種用于對 FPGA/CPLD 進行編程的技術。
通常與 JTAG 相關的調試和編程工具僅利用底層技術的一個方面——四線 JTAG 通信協議。
這四個信號統稱為測試訪問端口或 TAP,是 IEEE 標準的一部分。1149.1。該標準旨在提供一種測試印刷電路板組件 (PCBA) 的技術,無需針床測試所需的物理訪問級別或功能測試所需的定制開發量。TAP 旨在與添加到設備中的新寄存器進行交互,以實現這種測試方法。
然而,硅制造商很快就認識到使用 TAP 訪問提供其他功能(例如調試和編程)的寄存器的好處。
添加到專門用于 JTAG 測試的設備的主寄存器稱為邊界掃描寄存器 (BSR)。顧名思義,該寄存器的各個位或單元位于設備的邊界,位于其功能內核和連接到電路板的引腳或球之間——JTAG 測試通常被稱為邊界掃描.
邊界掃描單元(見上文)可以在兩種模式下運行。在它們的功能模式下,它們對設備的運行沒有影響——這是當板正常運行時它們運行的模式。在他們的測試模式下,他們將設備的功能核心與引腳斷開。通過將邊界掃描單元置于測試模式,它們可用于控制從啟用設備驅動到網絡的值,也可用于監控該網絡的值。
將引腳的控制與啟用的設備的功能斷開,使得邊界掃描測試開發比傳統的功能測試更容易,因為無需設備配置或啟動即可使用這些引腳。通過提供一種機制來控制和監視來自四針 TAP 的設備上的所有啟用信號,JTAG 顯著減少了測試電路板所需的物理訪問。
有兩種主要方法可以使用這種邊界掃描功能來測試電路板。第一種方式,連接測試(見下一節)提供了良好的測試覆蓋率,特別是對于短路故障。它完全基于 JTAG 設備功能、板上的連接和網絡,以及 - 在 XJTAG 的情況下 - 板上的邏輯功能。第二種方法通過使用板上支持 JTAG 的設備與非 JTAG 外圍設備(如 DDR RAM 和閃存)進行通信來擴展此覆蓋范圍。
JTAG 連接測試將檢查板上 JTAG 啟用設備周圍的連接是否與設計中指定的連接相同。
如果要連接兩個啟用 JTAG 的引腳,則測試將確保一個引腳可以由另一個引腳控制。如果啟用的引腳不打算連接,則通過驅動一個引腳并檢查其他引腳上是否未讀取這些值來測試它們是否存在短路故障。
缺少拉電阻和“卡住”故障也可以通過連接測試以及涉及可以在真值表中描述的行為的邏輯設備的故障來發現。
XJTAG 將根據電路板的網表和啟用設備的 JTAG 信息自動生成運行連接測試所需的向量。
XJTAG軟件產品
XJ Developer XJRunner XJInvestigator
完整的開發環境 專門的運行時環境 生產維修/返修站
1.開發和調試測試 1.生產測試 1.BGA 和細間距器件的實時逐個引腳控制
2. 在系統編程設置 2.在系統編程 2.制造故障診斷
3.測試覆蓋率分析 3.原理圖查看器 3.系統內編程
4.非 JTAG 器件庫 4.布局查看器
XJ Analyser XJFlash
可視化分析調試工具 通過 JTAG 進行基于 FPGA 的高速閃存編程
1.BGA 和細間距器件的實時逐個引腳控制 1.閃存編程速度比傳統邊界掃描快 50 倍
2.使用 SVF/STAPL/JAM 文件的在系統編程
3.簡單的 4 步設置向導